電感、電容、電阻是電子線路中使用最為廣泛的電子器件，在進行電子設計的基礎上，準確地測量這些器件的值是極其重要的。ＬＣＲ測試儀是一種采用交流方式測量電感、電容、電阻、阻抗等無源元件參數(shù)的裝置。用ＬＣＲ測試儀測量元器件的參數(shù)時，其關鍵問題是測量誤差。它的誤差來源主要有兩部分，首先是ＬＣＲ測試儀本身的內部誤差，其次是由不正確校準、測試件的連接方法及不正確選擇測量電路模型引起的。一般連接方法越麻煩越能準確地測量出元器件的參數(shù)。

1、ＬＣＲ測試儀校準

首先對測試儀進行開路校準，開路校準主要是消除測試夾具與被測件相并聯(lián)的雜散導納。其次是進行短路校準，通過一短路條（用低阻抗的金屬板）將高、低電極相連。短路校準主要是消除測試夾具與被測件相串聯(lián)的殘余阻抗的影響。

2、選擇測量電路模型

對于小電容、大電感來說，電抗一般都很大。這意味著并聯(lián)電阻（Ｒ。）的影響相對于小數(shù)值串聯(lián)電阻（Ｒ，）更加顯著，所以應采用并聯(lián)電路模型。相反，對于大電容、小電感則采用串聯(lián)模型。大于１０Ｋ１１左右用并聯(lián)，小于１０ＫＱ左右用串聯(lián)。如圖１。

圖 1

3、LCR 測試儀與被測件的連接

3.12 端子法

這種連接方法比較簡單，但由于接觸電阻、連接電纜的串聯(lián)阻抗（ｒ）、連接電纜以及端子之間的雜散電容（ｃ。）會引起較大的誤差。如果不是中等級數(shù)量的阻抗，那么測試誤差就會比較大。一般用于精度要求不是很高的測試。連接如圖２。

圖 2

3. 23 端子法

對測試電纜和被測件進行屏蔽，通過抑制雜散電容，減少對高阻抗測試的測量誤差。一般用于小電容的測量。為了將測試引線的雜散電容減至最小，測試電纜引線的中心導體應維護盡可能短，測量接頭的屏蔽與電纜中心導體互聯(lián)，以降低對地雜散電容的影響。

3. 34 端子法

設置獨立的電壓檢測電纜，以消除由于測試電纜串聯(lián)阻抗所引起的電壓降和接觸電阻的影響，是一種減少低阻抗測試誤差的方法。但需要盡量考慮由于電纜之間的互感（Ｍ）所產生的影響，增加外屏蔽。外屏蔽導體起測量信號的返回路徑作用，相同電流既流過中心導體又流過外屏蔽導體（以相反方向）。所以在導體周圍未產生外部磁場（由內部電流和外部電流產生的磁場彼此完全抵消）。因此，消除了電纜之間的互感（M）造成的誤差。連接如圖 3。

圖 3

3.  46 端子法

對于交流阻抗的測量與直流不同，其特點是不會受到溫差電動勢的影響。但是，由于電流電纜與電壓電纜之間的電磁感應，測量的頻率越高，要想測量低阻抗就越困難。對于這個問題，可以利用電纜的屏蔽層，使電流去路和歸路相互重疊，以抑制磁通量的產生，由此來減少由于電磁感應所引起的殘留阻抗，抵制電磁感應的影響。對電流電壓變換部分進行控制，由此使試樣端（Lp）的電壓接近于零。即使 Lc 端子對上的電壓也接近于零。連接如圖 4。

圖 4

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